膜厚儀的基本工作原理與測量模式

林上科技的膜厚儀又叫膜厚測試儀，符合了（GB/T 4957-2003）中的渦流法以及（GB/T 4956-2003）中的磁性法等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。

1、其中渦流測厚的原理，是利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生的電磁場，當(dāng)測頭和覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上就會產(chǎn)生電渦流。并且會對測頭中的線圈產(chǎn)生了反饋的作用，然后通過測量反饋?zhàn)饔玫拇笮韺?dǎo)出覆蓋層的厚度。

渦流測厚原理的膜厚儀，適用于非磁性金屬基體上（銅、鋁、黃銅等）非導(dǎo)電涂層的測量（如涂料、陽極氧化層等）。如航天航空器表面、車輛等及其它鋁制品表面的油漆，陽極氧化膜等。

2、而磁性測厚的原理，是當(dāng)測頭和覆蓋層接觸時(shí)，測頭和磁性金屬基體構(gòu)成的一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，會使磁路磁阻發(fā)生變化，根據(jù)變化就可以測出涂層的厚度。

磁性測厚原理的膜厚儀，適用于鐵磁性金屬基體上（鋼、鐵等）等非磁性涂層的測量。

林上的膜厚儀LS220結(jié)合了渦流測厚和磁性測厚的原理，有鐵基測量（Fe）模式，非鐵基測量（NFe）模式以及自動(dòng)識別（Fe/NFe）模式，另外，在自動(dòng)識別模式下，儀器自動(dòng)識別測量的基材，并且快速自動(dòng)轉(zhuǎn)換測量模式。